MARC details
| 000 -CABECERA |
| Campo de control de longitud fija |
07302nam a2200409 a 4500 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
| Identificador del número de control |
AR-sfUTN |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| Códigos de información de longitud fija |
170717s2004 mx ||||| |||| 00| 0 spa d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| ISBN |
13:9789701047248; 10:9701047249 |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
| Centro transcriptor |
AR-sfUTN |
| 041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
| Código de lengua del texto |
spa |
| 080 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL UNIVERSAL |
| Clasificación Decimal Universal |
658.562 G985 |
| Edición de la CDU |
2000 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre personal |
Gutierrez Pulido, Humberto |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
| Título |
Control estadístico de calidad y Seis Sigma / |
| Mención de responsabilidad |
Humberto Gutierrez Pulido, Román de la Vara Salazar. |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. |
| Lugar de publicación, distribución, etc. |
México : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
McGraw-Hill, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. |
2004 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
636 p. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
| Fuente |
rdacontent |
| Término de tipo de contenido |
texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
| Fuente |
rdamedia |
| Nombre del tipo de medio |
sin mediación |
| Código del tipo de medio |
n |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
| Fuente |
rdacarrier |
| Nombre del tipo de soporte |
volumen |
| Código del tipo de soporte |
nc |
| 505 80 - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
CONTENIDO<br/>1 Conceptos básicos de calidad 2<br/>La competitividad y la mejora de la calidad 4<br/>Calidad y productividad 8<br/>Medición del desempeño de una empresa (evolución del control de calidad) 11<br/>Conceptos relativos al control de calidad 14<br/>La variabilidad y el pensamiento estadístico 17<br/>2 Capacidad de procesos 1: Estadística descriptiva 22<br/>Cómo y cuántas unidades muestrear 24<br/>Medidas de tendencia central 25<br/>Medidas de dispersión o variabilidad 28<br/>Relación entre X y S (interpretación de la desviación estándar) 30<br/>Límites reales o naturales 31<br/>Estimación de los parámetros del proceso 32<br/>Histograma y tabla de frecuencias 32<br/>Medidas de forma 38<br/>Porcentaje de artículos fuera de especificaciones 39<br/>Percentiles o cuantiles 41<br/>Diagrama de caja 42<br/>Estudio real (integral) de capacidad 44<br/>Uso de Statgraphics y Excel 47<br/>3 Introducción a la probabilidad 58<br/>Conceptos de probabilidad 60<br/>Distribución binomial 62<br/>Distribución geométrica 64<br/>Distribución hipergeométrica 64<br/>Distribución de Poisson 64<br/>Distribución exponencial 65<br/>Distribución normal 65<br/>Verificación de normalidad (gráficas de probabilidad) 69<br/>Distribución ji-cuadrada 73<br/>Distribución T de Student 74<br/>Distribución F 74<br/>4 Elementos de inferencia estadística 78<br/>Conceptos elementales de inferencia estadística 80<br/>Distribuciones de probabilidad en inferencia estadística 82<br/>Estimación puntual y por intervalo 83<br/>Conceptos básicos de prueba de hipótesis 89<br/>Prueba para la media 94<br/>Prueba para la varianza 97<br/>Tres criterios de rechazo o aceptación equivalentes 98<br/>Hipótesis para dos medias: comparación de dos procesos o poblaciones 101<br/>Prueba para la igualdad de varianzas 105<br/>Poblaciones pareadas (comparación de dos medias con muestras dependientes) 106<br/>Uso de Statgraphics y Excel 113<br/>5 Capacidad de procesos II: indices de capacidad y análisis de tolerancias 120<br/>Indices de capacidad para proceso con doble especificación 122<br/>Procesos con sólo una especificación 130<br/>Indices de capacidad de largo plazo: Pp y Ppk 132<br/>Indices de capacidad para variables de atributos 133<br/>Estimación de los indices de capacidad mediante una muestra (estimación por intervalo) 134<br/>Diseño de tolerancias 141<br/>Estudio real (integral) de capacidad 137<br/>Uso de Statgraphics y Excel 154<br/>6 Herramientas básicas para Seis Sigma 160<br/>Diagrama de Pareto 162<br/>Estratificación 167<br/>Hoja de verificación (obtención de datos) 172<br/>Diagrama de Ishikawa (o de causa-efecto) 178<br/>Lluvia de ideas 186<br/>Diagrama de dispersión 187<br/>Mapeo de procesos 193<br/>Multivary 195<br/>7 Cartas de control para variables 206<br/>Causas comunes y especiales de variación 208<br/>Cartas de control 211<br/>Carta de control X-R 214<br/>Carta X-S 222<br/>Interpretación de las cartas de control y causas de inestabilidad 224<br/>Indice de inestabilidad, St 229<br/>Carta de individuales 230<br/>Cartas de precontrol 235<br/>Uso de Statgraphics 238<br/>8 Cartas de control para atributos 252<br/>Cartas p y np 254<br/>Cartas c y u (para defectos) 265<br/>Implantación y operación de una carta de control 273<br/>Uso de Statgraphics 280<br/>9 Cartas CUSUM y EWMA: detección oportuna de cambios pequeños 288<br/>Carta CUSUM 292<br/>Carta EWMA 300<br/>Uso de Statgraphics 302<br/>10 Estado de un proceso: capacidad y estabilidad 306<br/>Estado de un proceso 308<br/>Estrategias de mejora 313<br/>Ocho pasos en la solución de problemas (ciclo de la calidad) 322<br/>11 Calidad de mediciones (repetibilidad y reproducibilidad) 328<br/>Precisión y exactitud 332<br/>Repetibilidad y reproducibilidad 334<br/>Estudio largo con análisis de medias y rangos (long method) 336<br/>Método de ANOVA para analizar estudio largo 342<br/>Estudio R<br/>R corto (short method) 345<br/>Monitoreo del sistema de medición 349<br/>Estudios R<br/>R para pruebas destructivas 355<br/>Estudio R<br/>R para atributos 356<br/>Uso de Statgraphics 364<br/>12 Muestreo de aceptación 374<br/>Cuándo aplicar muestreo de aceptación 376<br/>Tipos de planes de muestreo 379<br/>Formación del lote y selección de la muestra 381<br/>Aspectos estadísticos: variabilidad y curva característica de operación 383<br/>Indices de calidad para los planes de muestreo de aceptación 392<br/>Diseño de un plan de muestreo simple con NCA y NCL específicos (método de Cameron) 397<br/>Military Standard 105D 401<br/>Planes de muestre o Dodge-Roming 414<br/>Plan de muestreo PDTL (LTPD) con c 420<br/>Muestreo de aceptación por variables (MIL STD 414) 422<br/>Uso de Excel y Statgraphics 431<br/>13 Confiabilidad 438<br/>Preguntas en estudio de confiabilidad 441<br/>Características de los estudios de confiabilidad 441<br/>Tipos de censura en confiabilidad 442<br/>Funciones en confiabilidad 446<br/>Modelos (distribuciones) para el tiempo de falla 452<br/>Especificación de la distribución de vida y estimación gráfica de sus parámetros 460<br/>Estimación por mínimos cuadrados y por máxima verosimilitud 469<br/>Varios modos de falla 472<br/>Confiabilidad de sistemas 475<br/>Uso de Statgraphics y Minitab 480<br/>14 Análisis de modo y efecto de las fallas (AMEF) 488<br/>Actividades para realizar un AMEF (proceso) 491<br/>15 Escuchar la voz del cliente (despliegue de la función de calidad, DFC) 504<br/>Pasos de un análisis con la matriz o casa de la calidad 507<br/>Algunos aspectos adicionales de DFC 511<br/>16 Proceso esbelto 514<br/>Especificar el valor 517<br/>Identificar el flujo del valor (detección de mudas) 518<br/>Agregar valor en flujo continuo, sin interrupciones 523<br/>Organizar el proceso para que sea el cliente quien jale valor desde el productor (kanban) 525<br/>Buscar la perfección 527<br/>Simulación de un proceso: aplicación de los principios 528<br/>17 Poka-yoke 536<br/>Conceptos básicos 538<br/>Ejemplos de dispositivos poka-yoke 539<br/>Pasos para resolver problemas con enfoque poka-yoke 543<br/>Características de los dispositivos poka-yoke 543<br/>18 Seis Sigma: metodología y estrategia 546<br/>Antecedentes y características de Seis Sigma 548<br/>La métrica Seis Sigma 554<br/>Otras métricas Seis Sigma 559<br/>Las etapas de un proyecto Seis Sigma y un ejemplo 564<br/>Diseñar para Seis Sigma (DMADV) 587<br/>Diseñar para confiabilidad (DPC) 589<br/>Responsabilidades y entrenamiento 590<br/>Implantación de SS 597<br/>19 Ejemplo de proyecto Seis Sigma 604<br/>Etapa previa 606<br/>Definición 607<br/>Medición 608<br/>Análisis 613<br/>Mejora 617<br/>Control 619<br/>Apéndice 623<br/>Bibliografía y referencias 631<br/>Indice 633 |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
CALIDAD |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
SEIS SIGMA |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
CONTROL DE CALIDAD |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
ESTADISTICA DESCRIPTIVA |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
INFERENCIA ESTADISTICA |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
PROBABILIDAD |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
CARTAS DE CONTROL |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
CARTA CUSUM |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
CARTA EWMA |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
MUESTREO |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
POKA-YOKE |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
DIAGRAMA DE CAUSA-EFECTO |
| 650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia |
DIAGRAMA DE ISHIKAWA |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre personal |
Vara Salazar, Román de la |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
| Tipo de ítem Koha |
Libros |
| Esquema de clasificación |
Clasificación Decimal Universal |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
| -- |
62230 |
| -- |
62230 |