Mediciones mecánicas : (Record no. 40902)
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000 -CABECERA | |
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Campo de control de longitud fija | 09626nam a2200409 a 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
Identificador del número de control | AR-sfUTN |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
Códigos de información de longitud fija | 170717b ||||| |||| 00| 0 d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
ISBN | 9701508521 |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro transcriptor | AR-sfUTN |
041 ## - CÓDIGO DE LENGUA | |
Código de lengua del texto | spa |
080 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL UNIVERSAL | |
Clasificación Decimal Universal | 531.7 F468 |
Edición de la CDU | 2000 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre personal | Figliola, Richard S. |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Mediciones mecánicas : |
Resto del título | teoría y diseño / |
Mención de responsabilidad | Richard S. Figliola, Donald E. Beasley. |
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN | |
Mención de edición | 3ra. [ì.e. en inglés, 1ra. en español] |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
Lugar de publicación, distribución, etc. | México: |
Nombre del editor, distribuidor, etc. | Alfaomega, |
Fecha de publicación, distribución, etc. | 2003 |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | 585 p. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Fuente | rdacontent |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Fuente | rdamedia |
Nombre del tipo de medio | sin mediación |
Código del tipo de medio | n |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Fuente | rdacarrier |
Nombre del tipo de soporte | volumen |
Código del tipo de soporte | nc |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Incluye CD-ROM, nº inv. RE0105 |
505 80 - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | CONTENIDO<br/>1. Conceptos básicos de métodos de medición<br/>1.1 Introducción<br/>1.2 Sistema general de medición<br/>1.3 Plan de prueba experimental<br/>Variables<br/>Parámetros<br/>Ruido e interferencia<br/>Pruebas aleatorias<br/>Réplica y repetición<br/>Métodos asociados<br/>1.4 Calibración<br/>Calibración estática<br/>Calibración dinámica<br/>Sensibilidad estática<br/>Intervalo<br/>Exactitud<br/>Errores de precisión y sesgo<br/>Prueba secuencial<br/>Prueba aleatoria<br/>1.5 Estándares<br/>Dimensiones básicas y sus unidades<br/>Unidades derivadas<br/>Jerarquía de estándares<br/>Estándares de prueba<br/>1.6 Presentación de datos<br/>Formato de coordenadas rectangulares<br/>Formato de coordenadas semilog<br/>Formato de coordenadas log<br/>1.7 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>2. Características estáticas y dinámicas de señales<br/>2.1 Introducción<br/>2.2 Concepto de señal entrada-salida<br/>Clasificación de formas de onda<br/>Formas de onda de señales<br/>2.3 Análisis de señales<br/>Efectos del período de una señal promediada<br/>Componente de cd<br/>2.4 Amplitud y frecuencia de la señal<br/>Señales periódicas<br/>Análisis de frecuencia<br/>Serie y coeficientes de Fourier<br/>Coeficientes de Fourier para funciones con periodos arbitrarios<br/>2.5 Transformada de Fourier y espectro de frecuencia<br/>Transformada de Fourier discreta<br/>2.6 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>3. Comportamiento del sistema de medición<br/>3.1 Introducción<br/>3.2 Modelo general de un sistema de medición<br/>Mediciones dinámicas<br/>Modelo del sistema de medición<br/>3.3 Casos especiales del modelo del sistema de medición<br/>Sistemas de orden cero<br/>Sistemas de primer orden<br/>Sistemas de segundo orden<br/>3.4 Funciones de transferencia<br/>3.5 Linealidad de fase<br/>3.6 Entradas a múltiples funciones<br/>3.7 Sistemas acoplados<br/>3.8 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>4. Probabilidad y estadística<br/>4.1 Introducción<br/>4.2 Teoría de mediciones estadísticas<br/>Funciones de densidad de probabilidad<br/>4.3 Estadística infinita<br/>4.4 Estadística finita<br/>Desviación estándar de las medias<br/>Estadísticos agrupados<br/>4.5 Distribución chi cuadrada<br/>Intervalo de precisión en una variancia de la muestra<br/>Prueba de la bondad de ajuste<br/>4.6 Análisis de regresión<br/>Análisis de regresión por mínimos cuadrados<br/>4.7 Detección de datos ajenos<br/>4.8 Número de mediciones requeridas<br/>4.9 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>5. Análisis de incertidumbre<br/>5.1 Introducción<br/>5.2 Errores de medición<br/>5.3 Análisis de incertidumbre en la etapa de diseño<br/>Combinación de errores elementales: método RSS<br/>Incertidumbre en la etapa de diseño<br/>5.4 Fuentes de error<br/>Errores de calibración<br/>Errores en la adquisición de datos<br/>Errores en la reducción de datos<br/>5.5 Errores de sesgo y precisión<br/>Error de sesgo<br/>Error de precisión<br/>5.6 Análisis de incertidumbre: propagación del error<br/>Propagación de errores<br/>5.7 Análisis de incertidumbre en la etapa avanzada de una sola medición<br/>Incertidumbre de orden cero<br/>Incertidumbre de orden superior<br/>5.8 Análisis de incertidumbre de mediciones múltiples<br/>Propagación de errores elementales<br/>Propagación de la incertidumbre a un resultado<br/>5.9 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>6. Mediciones y dispositivos analógicos eléctricos<br/>6.1 Introducción<br/>6.2 Dispositivos analógicos: mediciones de corriente<br/>Corriente directa<br/>Corriente alterna<br/>6.3 Dispositivos analógicos: mediciones de voltaje<br/>Medidores analógicos<br/>Osciloscopio<br/>Potenciómetro<br/>6.4 Dispositivos analógicos: mediciones de resistencia<br/>Circuitos de óhmetro<br/>Circuitos puente<br/>6.5 Errores de carga y acoplamiento de impedancia<br/>Errores de carga para un circuito divisor de voltaje<br/>Errores de carga en etapas intermedias<br/>6.6 Acondicionamiento de señales analógicas: amplificadores<br/>6.7 Acondicionamiento de señales analógicas: circuitos de propósito especial<br/>Comparador de voltaje analógico<br/>Circuito de muestreo y retención<br/>Amplificador de carga<br/>Multivibrador y circuitos flip-flop<br/>6.8 Acondicionamiento de señales analógicas: filtros<br/>Diseño del filtro Butterworth<br/>Diseño del filtro Bessel<br/>Filtros activos<br/>6.9 Tierras, blindaje y alambres de conexión<br/>Tierra y lazos de tierra<br/>Blindaje<br/>Alambres de conexión<br/>6.10 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>7. Muestreo, dispositivos digitales y adquisición de datos<br/>7.1 Introducción<br/>7.2 Conceptos de muestreo<br/>Velocidad de muestreo<br/>Alias de frecuencias<br/>Ambig edad de amplitud<br/>Selección de la velocidad de muestreo y número de datos<br/>7.3 Dispositivos digitales: bits y palabras<br/>7.4 Transmisión de números digitales: señales altas y bajas<br/>7.5 Mediciones de voltaje<br/>Convertidor digital a analógico<br/>Convertidor analógico a digital<br/>Vóltmetros digitales<br/>7.6 Sistemas de adquisición de datos<br/>7.7 Componentes del sistema de adquisición de datos<br/>Acondicionamiento de señal: filtrado y amplificación<br/>Multiplexores analógicos<br/>Convertidores A/D<br/>Convertidores D/A<br/>Entrada-salida digital<br/>Unidad de procesamiento central: microprocesador<br/>Memoria<br/>Bus central<br/>Buffers<br/>7.8 Comunicación analógica de entrada-salida<br/>Tarjetas de adquisición de datos<br/>Conexiones de terminación sencilla y diferencial<br/>Módulos de acondicionamiento de señales especiales<br/>Disparo en la adquisición de datos<br/>Transferencia de datos<br/>7.9 Comunicación digital de entrada-salida<br/>Comunicaciones en serie<br/>Bus en serie universal<br/>Comunicaciones en paralelo<br/>7.10 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>8. Medición de temperatura<br/>8.1 Introducción<br/>Antecedentes históricos<br/>8.2 Estándares y definición de temperatura<br/>Temperaturas de punto fijo e interpolación<br/>Escalas de temperatura y estándares<br/>8.3 Termometría basada en expansión térmica<br/>Termómetros de líquido en vidrio<br/>Termómetros bimetálicos<br/>8.4 Termometría con resistencia eléctrica<br/>Detectores de temperatura por resistencia<br/>Termistores<br/>8.5 Medición de temperatura termoeléctrica<br/>Efecto Seebeck<br/>Efecto Peltier<br/>Efecto Thomson<br/>Leyes fundamentales de los termopares<br/>Medición básica de temperatura con termopares<br/>Estándares de termopares<br/>Medición de voltaje del termopar<br/>Circuitos de termopar con múltiples uniones<br/>Consideraciones en la adquisición de datos<br/>8.6 Mediciones de temperatura por radiación<br/>Fundamentos de radiación<br/>Detectores de radiación<br/>Medición de temperatura por radiación<br/>Termómetros de fibra óptica<br/>8.7 Errores físicos en la medición de temperatura<br/>Errores de inserción<br/>Errores de recuperación en la medición de temperatura<br/>8.8 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>9. Mediciones de presión y velocidad<br/>9.1 Introducción<br/>9.2 Concepto de presión<br/>9.3 Instrumentos de referencia de presión<br/>Medidor McLeod<br/>Barómetro<br/>Manómetro<br/>Probadores de peso muerto<br/>10.9 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>11. Medición de deformación<br/>11.1 Introducción<br/>11.2 Esfuerzo y deformación<br/>11.3 Medidores de deformación por resistencia o galgas extensométricas<br/>Medidores metálicos<br/>Medidores de deformación de semiconductor<br/>11.4 Circuitos eléctricos para el medidor de deformación<br/>11.5 Consideraciones prácticas para la medición de deformación<br/>Puente con múltiples medidores<br/>Constante del puente<br/>Deformación aparente y compensación de temperatura<br/>Construcción e instalación<br/>Análisis de datos de medidor de deformación<br/>Acondicionamiento de la señal<br/>Incertidumbres en mediciones multicanal<br/>11.6 Técnicas ópticas para la medición de deformación<br/>Características básicas de la luz<br/>Medición fotoelástica<br/>11.7 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>12. Metrología y mediciones de movimiento, fuerza y potencia<br/>12.1 Introducción<br/>12.2 Mediciones de dimensión: metrología<br/>Perspectiva histórica<br/>Principios de mediciones lineales<br/>Métodos ópticos<br/>12.3 Mediciones de desplazamiento<br/>Potenciómetros; Transformador lineal diferencial variable<br/>12.4 Medición de masa<br/>12.5 Medición de aceleración y vibración<br/>Transductor sísmico<br/>Transductores para mediciones de choque y vibración<br/>12.6 Mediciones de velocidad<br/>Mediciones de velocidad lineal<br/>Velocidad a partir del desplazamiento o de la aceleración<br/>Transductores de bobina móvil<br/>Mediciones de velocidad angular<br/>12.7 Medición de fuerza<br/>Celdas de carga<br/>12.8 Mediciones de par<br/>Mediciones de par en flechas rotatorias<br/>12.9 Mediciones de potencia mecánica<br/>Velocidad rotacional, par y potencia de la flecha<br/>Dinamómetros de bastidor<br/>12.10 Resumen<br/>Referencias<br/>Nomenclatura<br/>Problemas<br/>Apéndice A: Guía para la redacción de reportes técnicos<br/>Apéndice B: Datos de propiedades y factores de conversión<br/>Glosario<br/>Factores de conversión |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | METODOS DE MEDICION |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | ANALISIS DE SEÑALES |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | SISTEMAS DE MEDICION |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | ANALISIS DE INCERTIDUMBRE |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | DISPOSITIVOS ANALOGICOS ELECTRICOS |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | MEDICIONES ANALOGICAS ELECTRICAS |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | MEDICION DE TEMPERATURA |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | MEDICION DE PRESION |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | METROLOGIA |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | MEDICION DE FLUJO |
650 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia | MEDICIONES MECANICAS |
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO | |
Término no controlado | CELDAS DE CARGA |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre personal | Beasley, Donald E. |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Libros |
Esquema de clasificación | Clasificación Decimal Universal |
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) | |
-- | 40902 |
-- | 40902 |
Estado | Estado perdido | Tipo de préstamo | Localización permanente | Ubicación/localización actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Total Checkouts | ST completa de Koha | Código de barras | Date last seen | Date last checked out | Número de copias | Tipo de ítem Koha | Total Renewals |
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Facultad Regional Santa Fe | Facultad Regional Santa Fe | 02/02/2018 | 9118 | 1 | 531.7 F468 | 9118 | 05/09/2018 | 05/09/2018 | 02/02/2018 | Libros | ||||
Facultad Regional Santa Fe | Facultad Regional Santa Fe | 02/02/2018 | 9354 | 8 | 531.7 F468 | 9354 | 26/03/2024 | 15/03/2024 | 02/02/2018 | Libros | 1 | |||
Facultad Regional Santa Fe | Facultad Regional Santa Fe | 02/02/2018 | 9355 | 8 | 531.7 F468 | 9355 | 04/10/2019 | 24/09/2019 | 02/02/2018 | Libros |